稳定窗口：40/42

平均条件相关强度：0.

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原始分类：高可信物理相关候选

江临双击点开它的完整记录。

这条边连接的两个检测事件，恰好位于芯片上相邻的物理区域。

不仅如此，它们在绝大多数窗口中，都共用同一组读出电子学线路。

在四十二个校准窗口中的四十个窗口里，这种相关性都稳定存在。

在对方原来提交的图表和报告里，E-009简直拥有了一条真实物理相关边应该拥有的全部美德。

稳定、强烈、贴近物理硬件拓扑。

对方团队甚至在补充说明中，专门用一整页的篇幅讨论了它的意义。

【E-009可能对应一条尚未建模的局部相关错误路径，如串扰或微波泄漏。】

【建议将其加入加权匹配图，以降低该区域的解码失配。】

江临没有急着下结论，而是将目光投向五层索引图。

调出物理邻接图，E-009紧紧贴着芯片上的相对位置。

随后调出读出分组图，它在绝大多数窗口里，也同时贴着一条固定的读出复用链。

物理位置与读出结构在这里高度重合。

单看这两层，根本无法判断它到底是因为物理串扰而生，还是因为线路复用而起。

江临继续操作，将第三张时间图叠加上去。

异样出现了。

E-009很少出现在同一轮次。

通常是d071先抛出异常，而d084往往在下一轮紧随其后。

平均延迟接近一个完整的测量周期。

这也是它被对方团队视作物理传播或泄漏记忆效应的重要理由。

按照对方原来的解释，某种物理错误可能在一个测量周期后，影响到了相邻区域。

江临不为所动，继续加入第四层。

校准、复位与重新同步。

经历这些打断动作后，E-009的相关强度略有波动，却始终没有完全消失。

它看起来比许多普通的读出故障更加顽固、更具生命力。

最后，江临叠加了第五层。

控制策略版本。

七个控制策略版本，被江临用脚本切成七种高对比度的颜色，沿着几个月的实验时间轴逐段铺开。

就在这一层，E-009那条原本近乎贯穿全程、代表高强度的深红色轨迹，第一次露出了断口。

它在第一版和第二版策略中极弱，几近于无。

第三版开始微微抬升。

第四版发布后的第一个校准窗口，相关强度突然发生暴涨，从0.
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